Le domaine de la caractérisation des solides requiert des outils d'apprentissage rigoureux. Ce livre, centré sur la microscopie électronique à balayage et microanalyse dans son second volume, répond précisément à ce besoin de haute technicité. Il regroupe les équations mathématiques fondamentales et les modèles de simulation nécessaires pour comprendre la poire d'interaction des électrons dans la matière solide.
La structure de l'ouvrage privilégie une progression logique de l'information scientifique :
Ce volume aide à concevoir des protocoles expérimentaux stricts, réduisant de fait le taux d'erreur lors des diagnostics de défaillance des matériaux.
| Sujet principal | Microscopia elettronica a scansione (Vol. 2) |
| Sous-matière | Microanalyse de pointe et spectrométrie |
| Typologie de données | Graphiques de rendement, spectres de référence, équations de transport |
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